能谱仪

仪器型号

Aztec   X-MAX80

仪器生产厂家

牛津仪器公司   (OXFORD)

安装时间

2017年12月

运行状态

正常

所属研究基地和分室

全球大地构造中心

联系人

王军鹏 wangjp@cug.edu.cn

仪器主要性能指标

1.探测器

*探测器：分析型SDD硅漂移电制冷探测器，晶体有效面积110mm²，晶体活区面积80mm²。

*能量分辨率：MnKa保证优于127eV,   元素分析范围: Be4～Cf98

*圆形对称芯片，独立封装FET场效应管，避免X射线轰击

*谱峰稳定性：1,000cps到100,000cps，MnKa峰谱峰漂移小于1eV，分辨率变化小于1eV, 48小时内峰位漂移小于1.5eV

*探测器自动伸缩，精确定位，无需手摇

2.显微分析处理器

*能谱仪图像处理器及脉冲处理器均与计算机采用分立式设计，电子图像清晰度8192*8192，全谱面分布图清晰度4096*4096

*图像灰度、对比度自动调节，二次电子像及背散射像可同时采集

3.软件

*软件为最新的AZtec平台，基于Win7   技术，多线程设计，导航器界面, 支持用户自定义模式及账户管理，支持分屏显示及远程控制，支持中、英文等多种操作界面

主要功能及应用范围

1.定性分析

可自动标识谱峰,进行谱重构，对重叠峰进行手动峰剥离;

2.定量分析

具备有标样定量分析及无标样定量分析方法，可以得到归一化结果, 或用化学配位法得到非归一化结果;

3.全谱智能面扫描

一次采集, 能存储每一扫描位置(x, y)的所有元素的信息,随后可以在从图像上的任何位置重建谱图、重构线扫描结果，并调用或删除任意元素的面分布结果.

4.全谱智能线扫描

全部数据一次线扫描全部收集, 可以随时任意添加删除元素, 进行谱图重构

5.轻元素定量分析程序，

采用XPP模型，比ZAF精度高数倍最新显微定量分析修正程序，大大提高分析精度